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各種粒度測試方法的優(yōu)勢和不足(一)

更新時間:2020-08-25 點擊次數(shù):2121

(1) 激光法:優(yōu)點:操作簡便,測試速度快,測試范圍大,重復(fù)性和準確性好,可實現(xiàn)在線測量和干法測量。缺點:分辨力較低。

(2) 動態(tài)圖像法:優(yōu)點:操作簡便、拍攝與分析速度快、重復(fù)性和準確性好,可測量大顆粒,可進行圓形度、長徑比等形貌分析。缺點:不能分析細顆粒(如 <2μm),儀器成本較高。

(3) 靜態(tài)圖像法:優(yōu)點:成本較低、圖像清晰、可進行圓形度、長徑比等形貌分析。 缺點:操作復(fù)雜,分析速度慢,無法分析細顆粒(如 <2μm)。

(4) 電鏡法:優(yōu)點:能分析納米顆粒和超細顆粒粒度和形貌,圖像清晰,表面紋理可見,分辨率高,是表征納米顆粒粒度的標準方法。缺點:代表性差、儀器價格昂貴。

 

 

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